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電介質(zhì)的損耗及其影響因素

更新時(shí)間:2024-08-13      點(diǎn)擊次數(shù):573

電介質(zhì)的損耗及其影響因素

影響電介質(zhì)損耗的因素主要有溫度、頻率和電壓。不同的電介質(zhì)所具有的損耗形式不同,從而溫度、頻率和電壓對(duì)電介質(zhì)損耗的影響也不同。

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1)氣體電介質(zhì)的損耗

氣體電介質(zhì)的相對(duì)介電常數(shù)εr接近1,極化是輕微的,因此氣體電介質(zhì)損耗僅由電導(dǎo)引起。當(dāng)外加電壓低于氣體的起始放電電壓時(shí),氣體電介質(zhì)的電導(dǎo)也是極小的,所以氣體電介質(zhì)的損耗很小,受溫度和頻率的影響都不大。因此,實(shí)際工程中,常用氣體作為標(biāo)準(zhǔn)電容器的介質(zhì)。當(dāng)外加電壓超過(guò)氣體的起始放電電壓時(shí),氣體將發(fā)生局部放電,損耗急劇增加,如圖3-15所示。

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2)液體和固體電介質(zhì)的損耗

非極性或弱極性的液體、固體及結(jié)構(gòu)較緊密的離子性電介質(zhì),它們的極化形式主要是電子位移極化和離子位移極化,沒(méi)有能量損耗,因此這類電介質(zhì)的損耗主要由電導(dǎo)引起,tanδ較小。頻率對(duì)其損耗沒(méi)有影響,溫度對(duì)這類介質(zhì)損耗的影響與溫度對(duì)電導(dǎo)的影響相似,即tanδ 隨溫度的升高也是按指數(shù)規(guī)律增大。

極性液體、固體及結(jié)構(gòu)不緊密的離子性電介質(zhì),除具有電導(dǎo)損耗外,還有極化損耗,因此tanδ較大,而且和溫度、頻率等因素有較復(fù)雜的關(guān)系,如圖3-16所示(曲線1對(duì)應(yīng)于頻率f1,曲線2對(duì)應(yīng)于頻率f2,f1< f2)。圖中曲線有極大值和極小值,首先分析電源頻率為f1時(shí)的情況,在溫度較低(t<t1)時(shí),電導(dǎo)損耗和極化損耗都很小,隨溫度的升高,偶極子轉(zhuǎn)容易,從使極化損耗顯著增加,同時(shí)電導(dǎo)損耗也隨溫度升高而略有增加,因此在這一范圍內(nèi)tanδ隨溫度的升高而增大。當(dāng)t=t1時(shí),偶極子轉(zhuǎn)向角已達(dá)最大值,總的介質(zhì)損耗達(dá)到最太值,當(dāng)溫度繼續(xù)升高(t1<t<t2)時(shí),分子熱運(yùn)動(dòng)加劇,阻礙了偶極子在電場(chǎng)作用下做規(guī)則排列,轉(zhuǎn)向極化減弱,極化損耗減小,在此階段雖然電導(dǎo)損耗隨溫度的升高仍是增加的,但其增加的程度比極化損耗減小的程度小,因此在這一范圍內(nèi)tanδ是隨溫度升高而減小的,當(dāng)t=t2時(shí),總損耗達(dá)到最小值。當(dāng)溫度進(jìn)一步升高(t>t2)時(shí),電導(dǎo)損耗隨溫度的升高而急劇增加,此時(shí)總損耗以電導(dǎo)損耗為主,因此隨著溫度的升高,介質(zhì)損耗也隨之急劇增大。由3-16可見(jiàn),當(dāng)電源頻率增高時(shí),整個(gè)曲線右移,這是因?yàn)樵谳^高的頻率下,偶極子來(lái)不及充分轉(zhuǎn)向,要使轉(zhuǎn)向極化充分進(jìn)行,就必須減小粘滯性(即升高溫度)。

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4.討論tanδ的意義

1)選擇絕緣材料

設(shè)計(jì)絕緣結(jié)構(gòu)時(shí),必須注意絕緣材料的tanδ,其值過(guò)大會(huì)引起嚴(yán)重發(fā)熱,容易使材料劣化,甚至導(dǎo)致熱擊穿。例如用蓖麻油制造的電容器就因?yàn)?/span>tanδ大,而僅限于直流或脈沖電壓下使用,不能用于交流電壓下。

2)在絕緣預(yù)防性試驗(yàn)中判斷絕緣狀況

當(dāng)絕緣受潮或劣化時(shí),tanδ將急劇上升,也可以通過(guò)tanδU的關(guān)系曲線加以判斷是否發(fā)生局部放電。

3)介質(zhì)損耗引起的發(fā)熱可以利用

當(dāng)tanδ大的材料需要加熱時(shí),可以對(duì)材料加交流(工頻或高頻)電壓,利用材料本身介質(zhì)損耗的發(fā)熱。如電瓷生產(chǎn)中對(duì)泥加熱即是在泥坯兩端加上交流電壓,利用介質(zhì)損耗發(fā)熱加速泥坯的干燥過(guò)程。由于這種方法是利用材料本身介質(zhì)損耗的發(fā)熱,所以加熱非常均勻。

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