一、測試功能原理與使用說明:
本文章以測試過程為順序, 介紹ZJC-100kV電壓介電擊穿強度儀的有關(guān)接地連接、 地線電流檢測 、電弧偵測等測試的原理與使用。 儀器的測試流程框圖:
1.1 啟動測試
電壓介電擊穿強度儀器在測試模式下,核對測試條件、被測件連接正確后,按下 START 鍵即可啟動測試
1.2 電壓上升
有些被測件特性對電壓的突變比較敏感,需要使用此功能。儀器開始輸出時輸出電壓為零,開始電 壓輸出時,儀器會以 0.1S為單位控制輸出電壓上步進升,步進升壓值根據(jù)測試電壓和電壓上升時間 確定( ΔV = V /(10 * S))。如果關(guān)閉電壓上升時間(RISE OFF )默認電壓上升時間 0.1 秒自動加 入測試時間,使測試時間最小值為 0.2S。此值太小可能引起 ARC 或 DC 升壓判定出錯,請注意。
1.3 DC 升壓判定
電壓上升過程中是否啟動電流上限判定功能開關(guān),主要用來避免測試誤判。
測試分布電容小時,電容的充電電流比較小不會引起電流有明顯變化的情況下,打開升壓判定可以 及早的發(fā)現(xiàn)被測件性能不良情況,減少元件過流損壞幾率。
分步電容大時,電壓上升過程中電容會有一個充電過程,此時的電流可能遠遠大于設(shè)定的被測電流 上限,如果打開升壓判定,則會引起超上限誤判。如果必要可以打開短路闕值調(diào)低短路靈敏度,提高充電電流。
1.4 高壓測試
對被測件進行高壓測試。此時應(yīng)該可以保證測試電路正確,測試結(jié)果不會受一些特殊的附帶參數(shù)影響,顯示內(nèi)容是測試需要的實際耐電壓電流。
1.5 測試電壓下降
同測試電壓上升,是被測件的特性決定。高壓測試結(jié)束電壓下降時,儀器會以 0.1S為單位控制輸出 電壓下降(直流電壓不會隨控制電壓下降),步進降壓值根據(jù)測試電壓和電壓上升時間確定( ΔV = - V /(10*S))。如果關(guān)閉電壓下降時間(FAIL OFF )默認電壓下降時間為 0.1秒。此時儀器以不作測 試比較判定,數(shù)據(jù)僅供參考。電壓下降結(jié)束,儀器會將測試電路連接為交流耐電壓模式,此時被測件如果有直流電壓降通過儀器交流回路放電。
1.6 地線電流檢測功能
地線電流檢測是檢測流過儀器外殼的電流,防止觸電。當高壓輸出時,有電流從電壓輸出端經(jīng)過人體回流到儀器外殼,可能引起非常嚴重的后果。
儀器的地線電流檢測判斷電路響應(yīng)說明:
█ 當?shù)鼐€電流檢測啟用,地線電流大于 0.45mA 判斷為地線電流超限。
█ 當判斷觸電時儀器會在 0.3S內(nèi)結(jié)束高壓輸出,退出測試狀態(tài)。并顯示(GFI FAIL )。
注:儀器瞬間輸出電流可能大于 30mA ,如果確實是觸電的話,可能會引起操作人員昏迷或死亡。 所以在產(chǎn)品允許的情況下建議開啟地線電流檢測使用。
1.7 電流超限與電弧偵測功能
電流超限分類:電流下限、電流上限、電流超限、電弧偵測。
█ 電流下限判斷( LOW ):一般做為測試低端斷開判斷使用。當儀器測試設(shè)備時,設(shè)備肯定會有一定的漏電流,當儀器測試的漏電流小于下限設(shè)定電流值時認為測試失敗(沒有連接設(shè)備), 如果被測元件本身漏電流很小則必須關(guān)閉此功能。超限判斷顯示( LOW FAIL ) , 僅測試模式此判定有效,定時采樣,速率為100mS每次。
█ 電流上限判斷(HIGH) :常用的測試電流超限判斷。當儀器測試設(shè)備時,設(shè)備肯定會有一定的漏電流,當儀器測試的漏電流大于上限設(shè)定電流值時,認為設(shè)備耐電壓阻抗不夠測試失敗。超時判斷顯示(HI FAIL ),定時采樣,速率為100mS 每次。
█ 電流極限判定:電流采樣判斷較慢,絕緣崩潰時電流變化較快采樣電路無法及時作出反映,而電流峰值超過了儀器允許的輸出范圍,則會觸發(fā)此類超限判斷,超時判斷顯示( SHORT FAIL )。 由于此類電流超極限后數(shù)據(jù)無法采集,此時系統(tǒng)輸出的結(jié)果為:電流超限 100mS 內(nèi)的測試結(jié) 果。電流極限值為儀器允許輸出電流的兩倍,(相對交流為峰值的 1.5倍)。下降時間無效,
█ 此判定不可屏蔽。
電弧偵測(ARC ):是面向線圈類元件測量的一個很實用的功能,它測試的是高壓測試回路中, 有局部電路瞬間放電引起的局部電流震蕩。由于疊加在正常的測試電流上,突變時間較短,以上的普通電流檢測電路無法響應(yīng)電流變化作出合適的判斷。電弧偵測電路濾除了正常電流值, 只處理高速的電流脈沖變化。由于低通濾波和電弧的大小本身帶有隨機性,此功能只能大概估計局部打火的程度。由于電流超限后無法采集數(shù)據(jù),此時的輸出結(jié)果為合格時的最后一次測試結(jié)果,超限判斷顯示(ARC FAIL )。 ARC電流為測試為定性分析,量的大小和測試環(huán)境、測試線分布等等影響隨機性很大,使用時注意。
█ 圖中 A 區(qū):為電流采樣顯示電路頻響。因為要濾除電源頻率的紋波 →AD 采樣→計算測試結(jié)果→分析電流是否超過設(shè)定限制。測試電流范圍內(nèi),脈寬大于 100mS 。
█ 圖中 B 區(qū):電流快速響應(yīng)電路。它只濾除高頻干擾的信號→電壓峰值比較→過流峰值信號鎖定,只做極限判斷。大于儀器允許輸出電流,脈寬大于 1mS 。
█ 圖中C 區(qū):電弧偵測電路。電弧偵測電路只采樣電流中發(fā)生突變的幅值,信號高通濾除低頻 →電壓峰值比較→脈沖鎖定。在設(shè)定值附近的電流突變沿,脈沖寬度約 1uS-1mS 。
1.8 不合格判斷
1、測試時電流超過儀器可以承受的最大輸出電流,或者儀器發(fā)現(xiàn)有安全隱患的狀態(tài)出現(xiàn),儀器會 立即切斷測試回路的電壓,等待儀器軟件查詢出錯原因后判斷不合格。
2、如果測試結(jié)果超出測試項目設(shè)定的限制,儀器都會判斷被測件不合格。并立即停止當前測試, 切斷電壓輸出,進入測試結(jié)果不合格的處理程序。
3、多步驟測試時。有一步 FAIL ,總的測試結(jié)果就是 FAIL。
1.9 測試結(jié)果處理
█ 如果測試過程出現(xiàn)超限,判斷為 (FAIL)。多步測試中出現(xiàn) FAIL 則最終結(jié)果為 FAIL 。
█ 有多測試項目, FAIL判斷處理模式受系統(tǒng)的失敗模式控制。否則儀器會顯示FAIL判斷和類別(見 下圖以 HI為例),等待用戶處理。
█ 測試結(jié)束后,沒有不合格標記,測試結(jié)果判斷為 (PASS) 。
█ PASS 判斷處理模式受 SYSTEM 的 PASS HOLD 控制,然后準備啟動下步測量或退回測試 等待狀態(tài)。 HANDLER 信號輸出受控制模式控制。選擇 FILE 模式,那么只有整個文件測試結(jié)束才會輸出測試 結(jié)果。 STEP 模式則每步都會控制接口輸出相應(yīng)信號。
從此狀態(tài)開始到下一個步驟開始前,客戶可以用軟件查詢測試數(shù)據(jù)和結(jié)果。
1.10 STOP (停止測量)
在整個測試過程中的任意狀態(tài)按下 STOP 鍵,儀器自動結(jié)束測試, 進入測試結(jié)束狀態(tài)。再次按下 STOP 鍵,儀器將退回測試等待狀態(tài)。停止測試時不會給出任何測試結(jié)果判斷輸出。
在測試結(jié)束狀態(tài), 客戶可以用軟件查詢 STOP 前得到的最后一個測試數(shù)據(jù)。
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