介質損耗及介電常數(shù)的實驗結果及分析

介質損耗及介電常數(shù)測試結果：

介質損耗在10kv交流電壓下測量，測試頻率為50hz。測試時，儀器可靠接地，以防止雜散電容對實驗結果的影響。同時，控制實驗環(huán)境溫度（25±1℃）和濕度（50±5%）。復合材料介質損耗的測試結果如下圖。

實驗結果表明，摻雜納米粒子的環(huán)氧樹脂較純環(huán)氧樹脂的介質損耗有所降低，由純環(huán)氧樹脂的1.25%。最大下降至0.47%。；而摻雜納米粒子的復合材料之間，則差別不大。

介電常數(shù)和介質損耗的測試一樣，均在10kv交流電壓下測量，測試頻率為50hz測試時，儀器可靠接地，以防止雜散電容對實驗結果的影響。同時，控制實驗環(huán)境溫度（25±1℃）和濕度（50±5%）。復合材料介質損耗的測試結果如下圖。

介質損耗及介電常數(shù)測試結果分析

介電常數(shù)和介電損耗可以反映電介質內部的介電馳豫過程，反映的是在外加電場下，電介質內部的響應過程。材料的介電常數(shù)與材料的極化過程有關，材料的介質損耗和材料的極化和電導都有關系。對聚合物/無機納米復合電介質來說，本研宄中選用的雙酚Ａ型環(huán)氧樹脂作為一種極性高聚物，在電場作用下除了發(fā)生電乎位移極化以外，它的極性基團也發(fā)生轉動，所以它的介電常數(shù)是由電子極化、原子極化和取向極化同貢獻的。添加納米sio2粒子后，聚合物分乎與納米顆粒之間存在著較強的相互作用，從而阻礙該區(qū)域極性高分子鏈段或側基的轉向，同時納米摻雜后界面區(qū)域的高分子被納米顆粒錨釘，進一步限制了分子的轉動和迀移，抑制了環(huán)氧樹脂分子的極化，從而降低了材料的介電常數(shù)。另—方面，加入納米粒子后，在復合電介質中引入了大量的深陷阱或使原有的陷阱能級變深，降低了載流子的迀移率，從而降低了材料的電導。受極化作用受限，電導率降低的影響，復合電介質的介質損耗顯著降低。